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工业电路板维修自动检测仪(电路板自动检测设备)

admin 2023-01-07 24 抢沙发
工业电路板维修自动检测仪(电路板自动检测设备)摘要: 本文目录一览:1、什么是ITC测试?2、如何使用电路在线维修测试仪对电路板进行维修...

本文目录一览:

什么是ITC测试?

Q:什么是ICT测试技术?ICT测试技术是什么意思?\x0d\x0a\x0d\x0aICT是 In Circuit Tester 的缩写,中文名称为 在线测试仪,是一种电路板自动检测仪器,又称为静态测试仪(因它只输入很小的电压或电流来测试,不会损坏电路板)。 它能够在短短几秒内测出电路板的好坏,并指出坏在哪一个区域及哪一个零件。将您公司产品在生产线造成的不良因素,如锡桥,错件、反插等问题?一一的检查出,大大提高效率和品质。(您再也不需长时间埋头苦干,用示波器、万用表等慢慢查找故障所在?) \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试,ICT,In-Circuit Test,是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 \x0d\x0a\x0d\x0a飞针ICT基本只进行静态的测试,优点是不需制作夹具,程序开发时间短。 \x0d\x0a\x0d\x0a针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率高,但对每种单板需制作专用的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT的范围及特点 \x0d\x0a检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路进行功能测试,如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。 \x0d\x0a\x0d\x0a它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。 \x0d\x0a\x0d\x0a测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT与人工测试比较之优点 \x0d\x0a1、缩短测试时间:一般组装电路板如约300个零件ICT的大约是3-4秒钟。 \x0d\x0a\x0d\x0a2、测试结果的一致性:ICT的质量设定功能,能够透过电脑控制,严格控制质量。 \x0d\x0a\x0d\x0a3、容易检修出不良的产品:ICT有多种测试技术,高度的可靠性,检测不良品种、且准确。 \x0d\x0a\x0d\x0a4、测试员及技术员水平需求降低:只要普通操作员,即可操作与维修。 \x0d\x0a\x0d\x0a5、减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成品率。 \x0d\x0a\x0d\x0a6、大大提升品质。减少产品的不良率,提高企 业形象。\x0d\x0a\x0d\x0aICT主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等无件!\x0d\x0a\x0d\x0a早期,业内将ATE设备也归在ICT这一类别中,但因ATE测试相对复杂,而且还包含了上电后的功能测试,象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等,所以将ATE独立为另一个类别了!\x0d\x0a\x0d\x0a基本上所在的大型电路生产商都要用到ICT测试,象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等!\x0d\x0a\x0d\x0a全球最大的ICT测试设备生产厂商是安捷伦,其它还有德律(TRI)、泰瑞达、星河等. \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试通常是生产中第一道测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。\x0d\x0a\x0d\x0aICT测试理论的一些简介\x0d\x0a1.1模拟器件测试 \x0d\x0a利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有: \x0d\x0a\x0d\x0a∵Ix = Iref \x0d\x0a\x0d\x0a∴Rx = Vs/ V0*Rref \x0d\x0a\x0d\x0aVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。 \x0d\x0a\x0d\x0a若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 隔离(Guarding) \x0d\x0a上面的测试方法是针对独立的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix_ref,测试时必须加以隔离(Guarding)。隔离是在线测试的基本技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix_ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时,只要使G与F点同电位,R2中无电流流过,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不变。将G点接地,因F点虚地,两点电位相等,则可实现隔离。实际实用时,通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点,消除外围电路对测试的影响。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 IC的测试 \x0d\x0a对数字IC,采用Vector(向量)测试。向量测试类似于真值表测量,激励输入向量,测量输出向量,通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。 \x0d\x0a\x0d\x0a如:与非门的测试 \x0d\x0a\x0d\x0a对模拟IC的测试,可根据IC实际功能激励电压、电流,测量对应输出,当作功能块测试。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 非向量测试 \x0d\x0a随着现代制造技术的发展,超大规模集成电路的使用,编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间,如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用,使器件引脚开路的故障现象变得更加突出。为此各公司非向量测试技术,Teradyne推出MultiScan;GenRad推出的Xpress非向量测试技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.1 DeltaScan模拟结测试技术 \x0d\x0aDeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管,对被测器件的独立引脚对进行简单的直流电流测试。当某块板的电源被切断后,器件上任何两个管脚的等效电路如下图中所示。 \x0d\x0a\x0d\x0a1 在管脚A加一对地的负电压,电流Ia流过管脚A之正向偏压二极管。测量流过管脚A的电流Ia。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 保持管脚A的电压,在管脚B加一较高负电压,电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享,电流Ia会减少。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 再次测量流过管脚A的电流Ia。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化(delta),则一定存在连接问题。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果,从而得出精确的故障诊断。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试,这就意味着除管脚脱开之外,DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反、焊线脱开等制造故障。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的测试称Junction Xpress。其同样利用IC内的二极管特性,只是测试是通过测量二极管的频谱特性(二次谐波)来实现的。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan技术不需附加夹具硬件,成为首推技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.2 FrameScan电容藕合测试 \x0d\x0aFrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头,在某个管脚激励信号,电容性探头拾取信号。如图所示: \x0d\x0a\x0d\x0a1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 测试仪内的模拟测试板(ATB)依次向每个被测管脚发出交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的,就会测到信号;如果该管脚脱开,则不会有信号。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。 \x0d\x0a\x0d\x0a此技术夹具需要传感器和其他硬件,测试成本稍高。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 Boundary-Scan边界扫描技术 \x0d\x0aICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。为此,联合测试组织(JTAG)颁布了IEEE1149.1测试标准。 \x0d\x0a\x0d\x0aIEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。首先定义了组成测试访问端口(TAP)的四(五〕个管脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);最后提出了边界扫描语言(Boundary Scan Description Language),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型,定义了TAP的模式和指令集。 \x0d\x0a\x0d\x0a具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器(SSR)的单元相接,称为扫描单元,扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链,用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。 \x0d\x0a\x0d\x0a将多个扫描器件的扫描链通过他们的TAP连在一起就形成一个连续的边界寄存器链,在链头加TAP信号就可控制和检测所有与链相连器件的管脚。这样的虚拟接触代替了针床夹具对器件每个管脚的物理接触,虚拟访问代替实际物理访问,去掉大量的占用PCB板空间的测试焊盘,减少了PCB和夹具的制造费用。 \x0d\x0a\x0d\x0a作为一种测试策略,在对PCB板进行可测性设计时,可利用专门软件分析电路网点和具扫描功能的器件,决定怎样有效地放有限数量的测试点,而又不减低测试覆盖率,最经济的减少测试点和测试针。 \x0d\x0a\x0d\x0a边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难,更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法,利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。 \x0d\x0a\x0d\x0a用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程(In-System Program或On Board Program)。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 Nand-Tree \x0d\x0aNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中,现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件,我们可将此文件转换成测试向量。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后,可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。\x0d\x0a\x0d\x0a基本的ICT近年来随着克服先进技术局限的技术而改善。例如,当集成电路变得太大以至于不可能为相当的电路覆盖率提供探测目标时,ASIC工程师开发了边界扫描技术。边界扫描(boundary scan)提供一个工业标准方法来确认在不允许探针的地方的元件连接。额外的电路设计到IC内面,允许元件以简单的方式与周围的元件通信,以一个容易检查的格式显示测试结果。\x0d\x0a\x0d\x0a另一个非矢量技术(vectorlees technique)将交流(AC)信号通过针床施加到测试中的元件。一个传感器板靠住测试中的元件表面压住,与元件引脚框形成一个电容,将信号偶合到传感器板。没有偶合信号表示焊点开路。\x0d\x0a\x0d\x0a用于大型复杂板的测试程序人工生成很费时费力,但自动测试程序产生(ATPG, automated test program generation)软件的出现解决了这一问题,该软件基于PCBA的CAD数据和装配于板上的元件规格库,自动地设计所要求的夹具和测试程序。虽然这些技术有助于缩短简单程序的生成时间,但高节点数测试程序的论证还是费时和和具有技术挑战性

如何使用电路在线维修测试仪对电路板进行维修

1在线测试仪的功能特点

1.1简介

在线测试仪是一种维修PCB板的仪器。它可完成对中小规模数字集成电路,存储器及部分大规模集成电路芯片的在/离线功能测试,还可对PCB板上任意一结点(焊点)进行V-I曲线的测试、存储和比较(所谓在线测试,是指对焊接在PCB板上的元器件进行的测试;而离线测试则是指对脱离PCB板的元器件进行的测试)。其原理结构框图如图1所示。

(1)功能测试(ICFT)

利用后驱动原理来驱动电路,然后取被测门的输出进行分析,得出结果。后驱动原理是指,让电路根据测试者的意图变化,强迫其输入端的电平变高或变低,以使被测门与周围电路“隔离“开来,看其输出与输入是否满足规定的逻辑关系,从而完成电路芯片的逻辑功能测试。

(2)VI曲线测试(V-I)

通过比较形式来判断故障点,其比较过程是这样的:先对一块工作正常的PCB板上两个结点进行测试,得到电压(V)——电流(I)关系曲线,并保存测试结果,作为将来比较操作中的标准。当遇到同类型PCB板发生故障时,便可用在线测试仪对该故障板的任意两结点进行VI测试,同时调出正常PCB板相应两结点间的VI曲线进行比较,若比较结果超出了正常范围,则此两结点间应是故障点之一。

(3)存储器测试

对随机读/写存储器(RAM),采用写入/读出的办法进行测试,即先向存储单元写入一数据,然后再读出,看两者数据是否相同,若不同,则该存储器出现了故障。对只读存储器(ROM),先将其存储单元的内容读出来,存于计算机中。日后同故障电路板上相应存储器中读出的内容相比较,相同则说明没问题。

(4)状态测试

通过测试器件各管脚的电平状态,并与好的器件进行比较来判别。

(5)自定义测试

在线测试仪还提供了一个数字电路功能测试平台,用户可自己定义被测器件输入管脚的激励,描述输出对于输入的逻辑关系。若符合逻辑关系,则器件没有问题。?

2.1基本原则

(1)先电源后测试——这是维修过程中的一项重要原则。即在使用测试仪进行测试前,应先检查电路芯片的工作电源,若电源短路,则在加电测试时可能会损坏仪器。

(2)先测试后分析——就是对PCB板先进行测试,再依据测试结果进行分析,进而确定故障位置。

(3)先确诊后处理——尽可能的把故障缩小到最小范围,有了较大的把握再更换元器件。?

2.2维修方法

(1)先离线后在线——由于离线测试准确度高,因此,对于板上可插拔器件,应将其取下进行离线测试,再对板上其他元器件进行测试。

(2)先接口后元件——维修时,最好对PCB板上的各接口引脚进行VI曲线测试。因为许多故障是由接口电路引起的,先测接口有时可以很快查出故障。

(3)先分立后集成——先测试分立元件,再测集成芯片,因为分立元件出现的故障率更高。

(4)先功能后VI——即对PCB板上可功能测试的集成块最好先进行功能测试,再对无法功能测试的集成块进行VI曲线测试。因为功能测试的结果更直观,更可靠,能确保更快找到故障。

3.1维修前的准备工作

(1)若PCB板上元器件无标号,则应画出PCB元件位置图,并在图上标出编号,测试时,以此标号进行识别。

(2)建立比较库。这是使用在线测试仪进行PCB板维修前的重要工作。所谓建库,是指通过对正常PCB板的测试,将板上元器件管脚状态、VI曲线波形、只读存储器内的数据等测试结果存档,以便维修时调出与故障板进行比较分析。

3.2维修步骤

(1)了解。当一块PCB板需要维修时,应问明出现的故障现象,并仔细观察板上是否有烧焦、保险丝熔断、插件松动或连线断开等明显故障。

(2)测电源。用万用表检查PCB板上元器件工作电源是否有短路。

(3)离线测试。取下板上可插拔器件并进行离线测试。

(4)在线测试。对板上其他元器件进行测试,确定故障点。其故障定位流程如图2所示。

(5)试运行。当故障点确定并排除后,还必须联机试运行,验证故障是否完全排除。若仍不能正常工作,还须按上述步骤重新查找故障。

(6)整理记录。在测试过程中(包括建比较库),应边测试边做好记录,特别是有可疑的地方,更应详细记录测试时观察到的现象。最后对记录进行分类整理并保存,以便日后遇到同类型模板或相似故障现象时可作为参考。

(1)测试前,用万用表检查板上元器件工作电源是否短路,若有,应先排除。

(2)加电测试时,用手摸元器件表面,检查是否有过热元器件,若有,应先排除或将过热器件摘除。

(3)若板上有振荡器,先摘除或将其短路,使其停止工作。防止测试过程中产生脉冲,影响测试结果。

(4)检查电路板上是否有电池供电的存储器,若有,应问清有关人员其内部数据是否有用。若有用,则不可测试,否则可能修改其数据或导致数据丢失。

(5)由于同一型号的元器件其特性多少存在一定差异,在VI曲线比较测试时,同一型号的每块板对应结点曲线也就不尽相同。一般当两曲线差异较大时,才认为该处可能是故障点之一。

(6)VI曲线测试时,其电压——电流曲线通常以板上电源地作为参考点。但一些板上的元器件或接口与电源地之间阻值很大或是断开,这时可自定义一个电路结点作为参考点。

(7)在线功能测试时,出现“有非法电源或地脚”时有两种可能:①测试夹未夹好被测器件,造成接触不良。②该器件确有其他引脚(器件本身工作电源及地脚除外)接电源或地,解决的办法是暂时将这些引脚与电源或地断开,再测试。

最后告诉大家一个,测试仪的使用技巧,那就是VI曲线功能,这个功能非常实用,在测试仪芯片库没有数据的情况下,无法对芯片进行测试的时候,我们可以使用VI曲线进行对比测试(有好板对照),如果没有好板,那我们可以找到公共地,然后对芯片管脚或元器件进特性,行性能测试。(元器件是性能分别是什么特性,测试仪说明书上面有清楚标示元器件特性)。

请问维修工控电路板这种集成电路在线测试仪那里有卖?最好是能给出个型号

电路维修测试仪硬件与测试功能

韩熔

不同型号的电路维修测试仪硬件会有所差异——电路规模、主要技术指标等等。如果不了解这些差异如何影响测试功能,难免在选型时感到困惑。本文仅讨论电路维修测试仪各硬件组成部分对主要测试功能的影响,可一定程度作为选型参考。

1.模拟通道

a. 模拟通道的数量

ASA(VI)曲线测试时,模拟通道负责把模拟测试信号送到器件不同管脚,从而支持使用测试夹、测试适配器,在数秒、数十秒钟内测试成百上千条曲线,大大提高测试效率。没有模拟通道的测试仪,只能用探棒逐脚测试。 

模拟通道主要用于以下场合:

在线测试(电路板上)IC的管脚ASA曲线。在线测试需要使用测试夹连接测试通道与器件管脚。主要因为缺乏适当的测试夹,40个通道即可;

离线测试(脱离电路板的)IC的管脚ASA曲线(有人叫做疑难器件测试)。通道数需不小于最大器件管脚数;

通过电路板外接插件,快速测试电路板上接口器件的ASA曲线。通道数最好多于电路板插件脚数。

b.模拟通道属性

目前的汇能电路维修测试仪有单属性、双属性两种。需要使用双属性通道的场合:

支持ASA曲线的“多端口”测试方式。也叫做“矩阵式”、“交叉管脚”、“转移参考点”测试方式;

支持ASA曲线测试中的“动态参考”(汇能专有技术。正在申请发明专利);

支持“软件设置参考脚”。

支持IC“疑似故障度”技术(正在申请发明专利)。

c.模拟通道电压范围

测试IC的管脚ASA曲线时,幅度通常在大于实际工作电压,小于最大额定电压之间,所以最大15V可满足绝大部分要求;

测试模拟IC功能,数字/模拟IC参数时,可能会需要更宽的电压范围。

2.模拟信号发生

a. 信号幅度和电压分档

测试ASA曲线时,幅度和电压分档满足测试3V、5V、12V的电压系列器件的要求即可。《汇能》电路在线维修测试仪测试仪有256个档,是为了满足IC参数测试、在线测试RCL等的要求。

b.模拟信号频率

测试ASA曲线时电路板不加电。不加电的情况下,IC就是一堆PN结的串并联,所以电路结点仅由PN结、电阻、电容、电感组成。PN结的VI关系为 ,与频率无关;电容、电感是频率相关的,使用表明,频率在1Hz到数百Hz即可满足ASA曲线测试的要求。最常用的在数十到一、两百赫兹。

其它类型测试或许需要更高的频率。但这种电路维修测试仪使用的万用表探棒、普通扁平电缆等低频测试工具,限制了它支持较高(例如上兆)测试频率。 

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3.精密直流参数测试电路

直流参数测试对维修中常碰到的拆机件、水货等,有更好的检测效果。该电路专门用于支持IC直流参数测试。目前仅《汇能》电路维修测试系统 Ver6.0(升级前为3.0)系列包括的测试仪具有这部分硬件。

《汇能》电路维修测试仪的精密直流测试单元能够处理毫伏级电压、微安级电流,通过模拟通道施加在被测器件管脚上,实现参数测试。 

ASA(VI)曲线测试不需要这部分硬件,但是ASA曲线不能检测器件参数。这一点其实不难理解:器件参数只有在加电时才存在,而ASA测试不加电,你无法测试不存在的东西。例如器件的负载能力大小,仅仅通过ASA测试,检测输出晶体管的PN结特征曲线形状是看不出来的。只有给器件加电,让器件实际驱动负载才行。我们将专文讨论这个问题。

4. 数字通道

数字通道主要用于支持数字器件功能测试,仅处理高、低电平(对应于逻辑1、逻辑0),一般还具有高阻态。

a. 数字通道电压范围

在实际测试时,测试代码中的0和1被转换成具体电压值。这个电压值与数字器件的工作电压相关。对于5V TTL系列,0定义为大于0V小于0.8V的电压;1定义为大于2.4V小于5V的电压。类似的,有5V CMOS系列、12V 系列、3V系列、EIA(±12V)系列,各自有相应的信号电压标准。

1)5V通道 

通道输出、输入的高低电压范围,满足5V TTL和5V CMOS的标准。例如《汇能》测试仪的HN1600系列,以及市面上大多数的其它电路维修测试仪; 

2)全电平通道 

指通道高低电压范围可以设置,能够支持测试各种电压系列标准。例如《汇能》测试仪的HN2600系列,电平范围可设置为满足测试3.3V系列至±12V系列的标准 ; 

3)组合通道 

由于全电平通道比较复杂,固定电平通道相对简单,有的测试仪把多种固定电平通道组装在一起,切换使用。这样虽然增加了硬件规模,但设计上较为简单。例如,40个5V通道和40个12V通道组合在一起,可测试最多40脚的5V和12V器件。 

b. 数字通道数

现在的《汇能》电路维修测试仪都是40个通道。以前有80个通道的,后来停产了。原因何在呢?下面的讨论也回答了这个问题。 

实现数字器件功能测试要求满足三个条件:

通道数不少于被测器件管脚数;

器件功能必须是已知的

器件功能必须是可(有效)描述的。

数字器件种类很多,主要限于条件2、3,仅在逻辑器件(以74、4000等系列为代表)上应用较为成功。逻辑器件(74系列)中有极少数超过40脚的型号。不过随着IC发展,电路板上的逻辑器件所占比例已经不大,超过40脚的型号更是罕见,基本不用考虑。

另一个称为“LSI器件测试功能”也用到数字通道。该功能是《汇能》电路维修测试仪于上世纪90 年代率先实现的,主要测试Z80、6502、8255等CPU及相关外围器件(上世纪70、80年代非常流行,绝大多数40脚以下,但有超过40脚的封装)。主要是限于条件3,效果不够好,随着Z80等器件逐步被淘汰,在最新的测试系统中,已经放弃了这一测试功能。

以上说明《汇能》电路电路维修测试仪设置40个数字通道的考虑。不过仍有人认为应该设置更多数字通道,并列举了一些超过40脚器件,仔细看一下,还是那些早期的、很少见的逻辑器件,以及早已退出应用的LSI器件。这说明该项测试没什么发展,还停留在当年水平,时至今日,更加缺乏实用价值,基本不用考虑。 

对于组合通道结构,有两种计算通道总数的办法。例如,20个12V通道(称为高压通道),40个5V通道。因为可测器件最大脚数仍为40,总计仍为40个通道;总计为60个通道也有道理。仅仅是计算着眼点不同。从支持测试功能来看,差于40个全电平通道。

c. 数字通道频率

这是一个本来无需多说,现在却有必要澄清一下的问题。

测试器件功能好坏时,测试频率与器件工作频率无关。这种技术观点近几年受到挑战:有人断言以2000K(2兆)的测试频率进行功能测试,就 “足以覆盖高频动态参数故障”。

这是不可能的。

如果2兆频率足以覆盖高频动态故障,2兆以上的测试仪将没有存在价值。但是,美国施伦伯杰的20兆,英国Diagnosis的10兆,至今仍然位居市场最高端。 

数字器件的频率范围,最小也从0到几十兆,区区2兆仅为几十分之一,如何测得出器件的高频故障?举个例子:假定一辆车的最高时速为200公里,若以时速2公里、20公里行驶,不可能发现与最高车速相关的性能问题;类似地,用2兆测试频率,检测不出来最高工作频率达数十兆器件的高频动态参数故障。 

该挑战给出这种实验来证明自己:检测一个器件,0.5兆测试频率正常、1兆正常、1.5兆失败,由此得出结论:仅仅提高测试频率导致测试失败,所以测试出了该器件的“高频动态参数故障”。

注意,举例器件的最高工作频率在40兆以上。还以汽车为例。时速200公里的汽车,能跑时速10公里,跑不到时速20公里,这种情况下,有可能是道路问题、轮胎没气了等等任何问题,不可能是最高车速问题,借此类推,几十兆的器件通不过1.5兆、2兆的测试,问题应该在测试仪上。事实确实如此。测试通道的分布参数较大,分布参数构成被测器件的负载,这个负载会随着提高测试频率而加重,最终由于器件负载能力不足导致测试失败,和最高工作频率无关。 

既然频率与器件功能测试无关,为什么会有数字测试频率这个参数?

数字器件在线功能测试必须使用“后驱动”隔离技术,该技术限制测试时间不得超过26毫秒。假如测试频率1K,26毫秒最多可执行26条测试;10K就能测试260条测试。测试频率越高,可执行的测试代码就越多,就能够测试越复杂的器件。就逻辑器件来说,几十K测试频率即可满足功能测试的需要。

5. 输出电源

这一部分在测试仪上占据的体积大、但成本最低。它只负责向被测试的电路板、器件提供工作电源。主要提供工作上的方便。可以用外接电源替代。 

由于目前的国产电路在线维修测试仪大都使用外购的普通的开关电源,品质接近。差别在于提供电源的种类多少、电流大小。

   

AOI自动光学检测仪的原理是什么?

AOI自动光学检测仪的原理:

人认识物体是通过光线反射回来的量进行判断,反射量多为亮,反射量少为暗。AOI与人判断原理相同。AOI通过人工光源LED灯光代替自然光,光学透镜和CCD代替人眼,把从光源反射回来的量与已经编好程的标准进行比较、分析和判断。目前最常用的图像识别算法为灰度相关算法,通过计算归一化的灰度相关来量化检测图像和标准图像之间的相似程度。

灰度相关的取值介于“0”和“1000”之间,“1000”代表图像完全相同,“0”代表图像完全不同,一般通过设定一个临界相关值(如650)来判断检测图像是否发生变化。相关值大于或等于临界相关值的为正常图像(元件或焊点正常),而小于临界相关值的为异常图像(元件或焊点异常)本社导入的AOI设备采用归一化的彩色相关算法,以RGB三基色的阶调度进行计算相似度。

AOI是近几年才兴起的一种新型测试技术,但发展迅速很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时,机器通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。【官网通道,线上支持】

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