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电路板维修故障检测仪

admin 2022-12-30 18 抢沙发
电路板维修故障检测仪摘要: 本文目录一览:1、什么是ITC测试?2、电缆故障测试仪出现故障怎么办?...

本文目录一览:

什么是ITC测试?

Q:什么是ICT测试技术?ICT测试技术是什么意思?\x0d\x0a\x0d\x0aICT是 In Circuit Tester 的缩写,中文名称为 在线测试仪,是一种电路板自动检测仪器,又称为静态测试仪(因它只输入很小的电压或电流来测试,不会损坏电路板)。 它能够在短短几秒内测出电路板的好坏,并指出坏在哪一个区域及哪一个零件。将您公司产品在生产线造成的不良因素,如锡桥,错件、反插等问题?一一的检查出,大大提高效率和品质。(您再也不需长时间埋头苦干,用示波器、万用表等慢慢查找故障所在?) \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试,ICT,In-Circuit Test,是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 \x0d\x0a\x0d\x0a飞针ICT基本只进行静态的测试,优点是不需制作夹具,程序开发时间短。 \x0d\x0a\x0d\x0a针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率高,但对每种单板需制作专用的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT的范围及特点 \x0d\x0a检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路进行功能测试,如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。 \x0d\x0a\x0d\x0a它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。 \x0d\x0a\x0d\x0a测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT与人工测试比较之优点 \x0d\x0a1、缩短测试时间:一般组装电路板如约300个零件ICT的大约是3-4秒钟。 \x0d\x0a\x0d\x0a2、测试结果的一致性:ICT的质量设定功能,能够透过电脑控制,严格控制质量。 \x0d\x0a\x0d\x0a3、容易检修出不良的产品:ICT有多种测试技术,高度的可靠性,检测不良品种、且准确。 \x0d\x0a\x0d\x0a4、测试员及技术员水平需求降低:只要普通操作员,即可操作与维修。 \x0d\x0a\x0d\x0a5、减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成品率。 \x0d\x0a\x0d\x0a6、大大提升品质。减少产品的不良率,提高企 业形象。\x0d\x0a\x0d\x0aICT主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等无件!\x0d\x0a\x0d\x0a早期,业内将ATE设备也归在ICT这一类别中,但因ATE测试相对复杂,而且还包含了上电后的功能测试,象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等,所以将ATE独立为另一个类别了!\x0d\x0a\x0d\x0a基本上所在的大型电路生产商都要用到ICT测试,象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等!\x0d\x0a\x0d\x0a全球最大的ICT测试设备生产厂商是安捷伦,其它还有德律(TRI)、泰瑞达、星河等. \x0d\x0a\x0d\x0a在线测试通常是生产中第一道测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。\x0d\x0a\x0d\x0aICT测试理论的一些简介\x0d\x0a1.1模拟器件测试 \x0d\x0a利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有: \x0d\x0a\x0d\x0a∵Ix = Iref \x0d\x0a\x0d\x0a∴Rx = Vs/ V0*Rref \x0d\x0a\x0d\x0aVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。 \x0d\x0a\x0d\x0a若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 隔离(Guarding) \x0d\x0a上面的测试方法是针对独立的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix_ref,测试时必须加以隔离(Guarding)。隔离是在线测试的基本技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix_ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时,只要使G与F点同电位,R2中无电流流过,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不变。将G点接地,因F点虚地,两点电位相等,则可实现隔离。实际实用时,通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点,消除外围电路对测试的影响。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 IC的测试 \x0d\x0a对数字IC,采用Vector(向量)测试。向量测试类似于真值表测量,激励输入向量,测量输出向量,通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。 \x0d\x0a\x0d\x0a如:与非门的测试 \x0d\x0a\x0d\x0a对模拟IC的测试,可根据IC实际功能激励电压、电流,测量对应输出,当作功能块测试。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 非向量测试 \x0d\x0a随着现代制造技术的发展,超大规模集成电路的使用,编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间,如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用,使器件引脚开路的故障现象变得更加突出。为此各公司非向量测试技术,Teradyne推出MultiScan;GenRad推出的Xpress非向量测试技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.1 DeltaScan模拟结测试技术 \x0d\x0aDeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管,对被测器件的独立引脚对进行简单的直流电流测试。当某块板的电源被切断后,器件上任何两个管脚的等效电路如下图中所示。 \x0d\x0a\x0d\x0a1 在管脚A加一对地的负电压,电流Ia流过管脚A之正向偏压二极管。测量流过管脚A的电流Ia。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 保持管脚A的电压,在管脚B加一较高负电压,电流Ib流过管脚B之正向偏压二极管。由于从管脚A和管脚B至接地之共同基片电阻内的电流分享,电流Ia会减少。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 再次测量流过管脚A的电流Ia。如果当电压被加到管脚B时Ia没有变化(delta),则一定存在连接问题。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan软件综合从该器件上许多可能的管脚对得到的测试结果,从而得出精确的故障诊断。信号管脚、电源和接地管脚、基片都参与DeltaScan测试,这就意味着除管脚脱开之外,DeltaScan也可以检测出器件缺失、插反、焊线脱开等制造故障。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的测试称Junction Xpress。其同样利用IC内的二极管特性,只是测试是通过测量二极管的频谱特性(二次谐波)来实现的。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan技术不需附加夹具硬件,成为首推技术。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.2 FrameScan电容藕合测试 \x0d\x0aFrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头,在某个管脚激励信号,电容性探头拾取信号。如图所示: \x0d\x0a\x0d\x0a1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。 \x0d\x0a\x0d\x0a2 测试仪内的模拟测试板(ATB)依次向每个被测管脚发出交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的,就会测到信号;如果该管脚脱开,则不会有信号。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。 \x0d\x0a\x0d\x0a此技术夹具需要传感器和其他硬件,测试成本稍高。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 Boundary-Scan边界扫描技术 \x0d\x0aICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。为此,联合测试组织(JTAG)颁布了IEEE1149.1测试标准。 \x0d\x0a\x0d\x0aIEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。首先定义了组成测试访问端口(TAP)的四(五〕个管脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);最后提出了边界扫描语言(Boundary Scan Description Language),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型,定义了TAP的模式和指令集。 \x0d\x0a\x0d\x0a具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器(SSR)的单元相接,称为扫描单元,扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链,用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。 \x0d\x0a\x0d\x0a将多个扫描器件的扫描链通过他们的TAP连在一起就形成一个连续的边界寄存器链,在链头加TAP信号就可控制和检测所有与链相连器件的管脚。这样的虚拟接触代替了针床夹具对器件每个管脚的物理接触,虚拟访问代替实际物理访问,去掉大量的占用PCB板空间的测试焊盘,减少了PCB和夹具的制造费用。 \x0d\x0a\x0d\x0a作为一种测试策略,在对PCB板进行可测性设计时,可利用专门软件分析电路网点和具扫描功能的器件,决定怎样有效地放有限数量的测试点,而又不减低测试覆盖率,最经济的减少测试点和测试针。 \x0d\x0a\x0d\x0a边界扫描技术解决了无法增加测试点的困难,更重要的是它提供了一种简单而且快捷地产生测试图形的方法,利用软件工具可以将BSDL文件转换成测试图形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。 \x0d\x0a\x0d\x0a用TAP访问口还可实现对如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在线编程(In-System Program或On Board Program)。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 Nand-Tree \x0d\x0aNand-Tree是Inter公司发明的一种可测性设计技术。在我司产品中,现只发现82371芯片内此设计。描述其设计结构的有一一般程*.TR2的文件,我们可将此文件转换成测试向量。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后,可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。\x0d\x0a\x0d\x0a基本的ICT近年来随着克服先进技术局限的技术而改善。例如,当集成电路变得太大以至于不可能为相当的电路覆盖率提供探测目标时,ASIC工程师开发了边界扫描技术。边界扫描(boundary scan)提供一个工业标准方法来确认在不允许探针的地方的元件连接。额外的电路设计到IC内面,允许元件以简单的方式与周围的元件通信,以一个容易检查的格式显示测试结果。\x0d\x0a\x0d\x0a另一个非矢量技术(vectorlees technique)将交流(AC)信号通过针床施加到测试中的元件。一个传感器板靠住测试中的元件表面压住,与元件引脚框形成一个电容,将信号偶合到传感器板。没有偶合信号表示焊点开路。\x0d\x0a\x0d\x0a用于大型复杂板的测试程序人工生成很费时费力,但自动测试程序产生(ATPG, automated test program generation)软件的出现解决了这一问题,该软件基于PCBA的CAD数据和装配于板上的元件规格库,自动地设计所要求的夹具和测试程序。虽然这些技术有助于缩短简单程序的生成时间,但高节点数测试程序的论证还是费时和和具有技术挑战性

电缆故障测试仪出现故障怎么办?

电缆故障测试仪(又称电缆故障探测仪)是维护各种电缆的重要工具,但在使用过程中不可避免地会出现一些问题,对在使用电缆故障测试仪的过程中进行电缆故障测试仪的故障分析。

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一.电缆故障测试仪介绍

电缆故障测试仪一般由电缆故障测试仪主机、电缆路径测试仪、故障定位器、电缆故障综合高压发生器等设备组成,一般地,电缆故障测试仪可以测试电缆的高电阻闪络故障、高电阻接地、短路和电缆断开、接触不良等。

二.电缆故障测试仪故障分析

在实际应用过程中,电缆故障测试仪也会出现一些故障现象,严重影响电缆故障测试仪的性能。现在,对电缆故障测试仪中一些简单的故障类型进行了分解,使用户可以自行维修设备,省去返回工厂的麻烦。

1.电缆故障测试仪开启后电源指示灯关闭。

如果屏幕不亮,可能是电池没电了,电缆故障测试仪需要充电。完成充电后,再次打开,如果电缆故障测试仪的屏幕打开,而电缆故障测试仪的电源指示灯仍然不亮,则表示指示灯损坏,需要更换指示灯;如果电缆故障测试仪充电,屏幕和指示灯仍然不亮,说明电缆故障检测仪主机上的电路板有故障,这种情况下不能拆卸机器进行维护,必须联系电缆故障测试仪制造商进行维护。

2.电缆故障测试仪屏幕没有图像显示

当电缆故障测试仪打开时,电源指示灯亮起,但电缆故障测试仪的屏幕没有图像显示,设备屏幕不显示,可能是测试现场光线强,导致屏幕显示的状态不容易查看。此时,通过调整电缆故障测试仪的对比度可以解决这一问题。如何调整电缆故障测试仪的对比度,可根据电缆故障测试仪的厂家 s指令进行操作,如果确定不是光的原因,可能是主电路板故障,需要返厂修理。

3.电缆故障测试仪屏幕没有发射波形

在电缆故障测试仪的使用中,设备可以正常传输波形,但没有传输波形,这个问题通常有两个原因:

首先,在测量电缆故障测试仪之前,所选测量范围过大或太小,不适当的测量范围会影响电缆故障测试仪的正常使用,此时,只需返回到测试前的步骤,并选择正确的测试范围。

其次,由于电缆故障测试仪的输出测试线与被测电缆之间的连接没有固定,因此电缆故障测试仪不能检测被测产品,因此发送的波形没有反射波形响应,您可以先停止测试并检查接线。一切正常后,电缆故障测试仪将再次测试。

回复者:华天电力

如何用万能表检测维修各种故障的电路板

如何用万能表检测维修各种故障的电路板

(1)离线检测

测出ic芯片各引脚对地之间的正、反电阻值,以此与好的ic芯片进行比较,从而找到故障点。

(2)在线检测

1)直流电阻的检测法。同离线检测,但要注意:

a.要断开待测电路板上的电源。

b.万能表内部电压不得大于6v。

c.测量时,要注意外围的影响,如与ic芯片相连的电位器等。

2)直流工作电压的测量法。测得ic芯片各脚直流电压与正常值相比即可,但也要注意:

a.万能表要有足够大的内阻,数字表为首选。

b.各电位器旋到中间位置。

c.表笔或探头要采取防滑措施,可用自行车气门芯套在笔头上,并应长出笔尖约5rrm。

d.当测量值与正常值不相符时,应根据该引脚电压,判断对ic芯片正常值有无影响,以及其他引脚电压的相应变化进行分析。

e.当外围有漏电、短路、开路或变质等时,ic芯片引脚电压会受外围元器件的影响。

f.ic芯片部分引脚异常时,则从偏离大的人手。先查外围元器件,若无故障,则ic芯片损坏。

g.对工作时有动态信号的电路板,有无信号ic芯片引脚电压是不同的。但若变化不正常则ic芯片可能己坏。

h.对多种工作方式的设备,在不同工作方式时ic脚的电压是不同的。

3)交流工作电压测试法。用带有db挡的万能表,对ic进行交流电压近似值的测量。若没有db挡,则可在正表笔串人一只0.1~0.5uf隔离直流电容。该方法适用于工作频率比较低的ic,但要注意这些信号因固有频率、波形不同而不同,所以所测数据为近似值,仅供参考。

4)总电流测量法。通过测ic电源的总电流,来判别ic的好坏。由于ic内部大多数为直流耦合,ic损坏时(如pn结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化。所以测总电流可判断ic的好坏,在线测得回路电阻上的电压,即可算出电流值来。

以上检测方法各有利弊,在实际应用中将这些方法结合来运用。运用好了就能维修好各种电路板。

(3)不能过分依赖在线测试仪

1)功能测试不能代替参数测试。

2)功能测试仅能测试到器件的截止区、放大区和饱和区,但无法了解此时的工作频率的高低和速度的快j漫。

3)对数字芯片而言,仅知道有高低电平的输出变化,但无法查出它的上升和下降沿的变化速度。

4)对于模拟芯片,它处理的是模拟的变化量。其受电路的元器件的分布,解决信号方案的不同,是错综复杂的。就目前的在线测试技术,要解决模拟芯片在线测试是不可能的。所以,这项功能测试的结果,仅能供参考。

5)大多数的在线测试仪,在对于电路板上的各类芯片进行功能测试后,均会给出“测试通过”或“测试不通过”。这就是这类测试仪的缺憾。因为在线测试时,所受影响(干扰)的因素太多。要求在测试前采取不少的措施(如断开晶振,去掉cpu和带程序的芯片,加隔离中断信号等),这样做是否均有效,值得研究。至少,目前的测试结果有时不尽如人意。

6)了解在线测试仪的读者,均知道有这么一句行话。“在线测试时不通过的芯片不一定是损坏的;测试通过的芯片一定是没有损坏的。”如器件受在线影响或抗干扰时,结果可能不通过,对此不难理解。那么,是否损坏的芯片在进行测试时,均会得出“不通过”呢?回答确实不能肯定。有实例明明芯片已损坏了(确切地说换上这个芯片板子就不工作了),但测试结果是通过的。权威解释为这是测试仪自身工作原理(后驱动技术)所致。故此我们不能过分依赖在线测试仪的作用.

如何检测电路板上的未知芯片

使用电路板故障检测仪。

相关电路板故障检测仪用法:

1. 数字逻辑器件性能(直流参数)测试:

维修实践发现,有些器件原有作用尚能实现,但参数却发生了变化,元件性能表现的很不稳定,设备或电路板仍然不能正常工作,为此天惠公司开发了针对集成电路直流参数的测试作用,支持对数字集成电路的输入漏电流和输出驱动电流等直流参数测试。如输入漏电流(Iih,IiL,Vih,ViL);输出驱动电流(IOL,IOh,VOL,VOh)。

2. 数字逻辑器件在/离线作用测试:

能够对多逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线作用测试;测试器件库庞大,仅逻辑数字器件就1 万多种;

测试范围广:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄罗斯器件、西门子器件库。

3.ASA(VI)模拟特征分析测试:

ASA测试通过比较好电路板和故障电路板上相应器件管脚的特征曲线差异检测故障,可把故障定位到电路结点。ASA测试不涉及器件作用,无论何种元器件,模拟的、数字的、作用已知的、作用未知的都能检测;ASA测试是逐管脚进行的,基本上不受器件封装限制,任何封装形式的器件均可进行测试。 ASA测试无需给电路板加电,

使用较为安全。

4.单/多端口VI曲线分析比较测试:

对器件采取单端口或多端口的VI曲线测试方式;单端口测试方式是指每个管脚对地提取一遍阻抗特性曲线,而多端口是以任一脚做参考提取一遍VI曲线。

5.ASA 曲线双棒动态比较测试:

使用双路探棒对两块相同电路板上的相应节点时时的进行动态比较测试;当被测板上的器件不能使用测试夹测试时,此种方法最有效。

6.ASA 曲线测试智能提醒作用:

当使用双探棒进行比较测试时,如果超差,仪器会出现报警声音,引起使用者注意,该测试方法利用微机喇叭产生类似于万用表Beep的效果,提高了检测效率,也大大降低了劳动强度。

7.ASA 测试曲线灵敏度可调:

当ASA曲线走势趋向于45度时,如果曲线的数据发生变化,曲线就变化明显,反映故障的观察灵敏度就越精确,曲线反映故障灵敏度和测试参数相关,适当调整测试参数能够得到更灵敏的曲线;该测试方法能够自动搜索出对故障较灵敏的那根曲线,有效的提高了故障检出率。

8.可按管脚设置ASA 曲线测试参数:

可根据具体器件的测试需要,给不同管脚设置不同的测试参数,可设置任一管脚为提取或不提取ASA曲线;大大提高了测试的灵活性。

9.ASA 曲线故障快速定位/查找作用:

当VI测试出现故障曲线时,测试仪提供快速的曲线定位/查找作用选项,使用户观察曲线更方便、直观。

10. 对不稳定疑难曲线有效识别:

增强了对不稳定疑难曲线有效识别的判断水平,降低了误判率,进一步提高了测试准确度。

11. VI曲线参数值量化作用:

即从被测电路或器件的ASA曲线中可以获取相应的参数测试值并保存,且能够用写字板或OFFICE工具软件直接进行编辑或浏览。

12. 求取平均曲线的测试作用:

用户可以先测试多个器件,得到多个曲线文件,然后利用该作用把多个曲线文件平均成一个曲线文件,作为以后的测试比较标准。

13.VI曲线双板直接对比测试:

使用双路测试夹对两块相同电路板(一块好板和一块坏板)上的相应IC同时进行VI曲线提取、存储和比较测试,测试效率极高。

14.三端器件测试:

完成对三端分立元件的动态测试作用,如三极管、可控硅、场效应管、继电器等元件测试。

15.ASA 曲线多种排列/显示方式:

可按比较误差降序排列显示曲线,比较误差升序排列显示曲线,还可按器件管脚顺序排列曲线;可以“按点或“画线”来显示曲线,单个管脚的曲线可以单独放大或缩小。

16.电容、电感定量测试:

可直接在离线状态下准确测试电容的容量及漏电阻,并展现出电容在充放电过程中不同的阻值的过程;能够测试出电感的电感量及串联电阻;

17. 电路板图象建库测试:

通过数码相机或扫描仪将一块好的电路板输入到计算机内,在屏幕上就可以对该板上各个集成电路芯片进行编号,以便让仪器知晓器件所在位置,然后即可对每一个器件同时进行逻辑作用在线测试及VI曲线扫描测试,从而建立起整板的测试库,当需要维修时,只需将该板从计算机软件内调出,就可以直接对其进行故障诊断,适用于批量电路板的维修。

18.数字逻辑器件在线状态测试:

能够提取11种复杂的电路在线状态,如开路、逻辑翻转信号、非法电平、总线竞争等等状态,对测试器件外电路的识别能力强。

19.总线竞争信号隔离作用:

用于解除总线竞争,确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路总线竞争隔离信号。

上图为:电路板故障检测仪

20.IC型号识别:

针对标识不清或被擦除型号的器件,可“在线”或“离线”进行型号识别测试。

21. LSI大规模集成电路在线作用及状态分析测试:

可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行作用及状态分析测试。

22.读写存储器作用测试:

直接检测存储器SRAM / DRAM芯片的好坏,该测试无需事先学习,有独立的测试器件库,可采用在线、离线测试方式。

23.只读存储器作用测试:

可采取在线(离线)学习/比较的测试方法,先把好板上EPROM中的程序读出来,保存到计算机上,再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试;测试结果定位到存储单元地址上,并打印出该地址正确和错误的代码。

24.元器件循环测试作用:

该作用可对数字逻辑器件、集成运放、光耦等器件进行重复测试,直到出现错误或被终止,易于发现一些器件的非固定性故障(或称为软故障)。

25.数字逻辑器件测试阈值可调作用:

阈值电平是指判定器件输出是逻缉1或逻辑0的门槛电平值。除了给出常用的几种电平值供直接选取外,还可选自定义。通过调整器件的阈值电平,能够发现一些如器件驱动能力下降导致的电路故障。

26.加电延迟可选作用:

当遇到被测电路板上的电源、地之间有大的滤波电容时可用到此作用。该选项是确定在测试仪接通外供电源以后,需要等待多长时间后才开始进行测试。

27.测试夹接触检查作用:

主要解决当测试夹和被测器件接触不良(如被测器件管脚氧化腐蚀、三防漆打磨不干净等)时,造成的测试误判。

28.运算放大器在线作用测试:

使用模拟信号测试运放在线性放大区的工作特性,测试技术或国家发明专利,有独立的测试器件库,包含LM324、LM348等共计3000多种。

29. 电压比较器测试:

模拟电压比较器用于判断两个信号的微小差异,通过本测试仪可以很容易测试。

30.光电耦合器在线作用测试:

由于光耦是电流控制器件,采用电流激励信号测试,方法科学严谨,准确度高;有独立的光耦测试器件库,

达500多种。

31.光电耦合器离线直流参数测试:

可在离线情况下对光耦的主要直流参数(如光电转换系数等)进行测试,解决了由于器件的参数变化难以发现的故障现象,提高了故障检出率;

32.UDT自定义测试平台:

把测试仪的测试通道开放给用户,由用户对被测元件或电路的输入施加激励信号,然后从输出采集响应信号,类似于函数发生器+示波器的测试方法。

33. UDT下AD、DA类器件作用测试:

用户通过UDT控制聪能测试仪,向被测试器件(AD/DA)或电路的输入施加数字、模拟激励信号,从输出取回相应的响应信号,通过比较相同激励信号下,器件/电路的实测响应信号和预期(标准)响应信号的符合程度,实现故障检测。

34. AFT电路故障追踪:

AFT可以看成“信号发生器+示波器”测试方式的直接扩充。本测试仪上能够设置多种测试信号,并且能把测试信号以及好板电路对测试信号的响应,关联在一起存放在计算机中――建立用户自己的电路板测试库,用于对故障板的测试;也可以把同样的测试信号同时加在好、坏板的电路上,直接对照两者的输出结果。

35.电路板网络测试:

使用模拟信号提取或比较线路板上任意元器件之间的连线关系,测试时无须加电,通/断阈值设置明确。能够支持对用户的标准Protel 网络表文件的直接导入,使网络中的开路、短路测试变的更加方便和快捷。

36. 晶体管输出特性曲线测试:

可以测出双极型晶体管的输出特征曲线、MOS型晶体管的跨导曲线。从曲线上可以检查交流放大能力大小以及均匀程度,直观看到晶体管的三个区:截止区、放大区、和饱和区的具体情况。可用于晶体管的筛选,尤其在晶体管配对时特别有用。

37.填表方式扩充模拟器件库:

以填表的方式定义模拟器件的各管脚状态:如:正输入脚、负输入脚、输出脚、正电源脚、负电源脚、接地脚,以及其他状态等。

38.以编程方式扩充数字器件库:

采用HNDDL语言,自适应技术完善;把扩充程序直接开放给用户,由用户自己可以自行填加测试器件库。

39.元器件速查手册(电子词典):

元件库容量近四万种,供用户查阅元器件的名称、管脚排列、封装等信息。

40.维修日记:

供记录日常维修的经验体会,发生的重要事情等,长期保存这些资料并积累经验,会大大提高维修水平和技能。

41.后台操作记录:

测试仪会自动记录测试过程及测试结果等信息。

电路板故障往往表现为系统启动失败、屏幕无显示等难以直观判断的故障现象,因此我们要掌握一些检测方法,在发生故障时,及时发现,及时解决,电路板故障检测仪就是可以高效检测电路板的仪器。

请问检测电路板故障的仪器叫什么?接上正负极直接可以显示整个线路图

检查故障的依然叫做检测笔,只是数值范围更大更精确。显示线路图的应该是某种电器电路板专用的了。应用范围小,功能单一

维修电路板需要那些专业工具?

指针,数字万用表及电烙铁,热风枪,电桥示波器信号发生器等等。

线路板按层数来分的话分为单面板,双面板,和多层线路板三个大的分类。

1、双面板为单面板的延伸,当单层布线不能满足电子产品的需要时,就要使用双面板了。双面都有覆铜有走线,并且可以通过过孔来导通两层之间的线路,使之形成所需要的网络连接。

2、多层板具有三层以上的导电图形层与其间的绝缘材料以相隔层压而成,且其间导电图形按要求互连的印制板。多层线路板是电子信息技术向高速度、多功能、大容量、小体积、薄型化、轻量化方向发展的产物。

扩展资料:

电路板的检测修理:

1、带程序的芯片:对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来。

2、复位电路:待修电路板上有大规模集成电路时,应注意复位问题。在测试前最好装回设备上,反复开,关机器试一试,以及多按几次复位键。

3、 三.功能与参数测试 :测试仪对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区。但不能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等,同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化。而无法查出它的上升与下降沿的速度.。

参考资料来源:百度百科-电路板

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